Fortell venner om denne varen:
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition 3rd ed. 2003 edition
Joseph Goldstein
Legg til iMusic ønskeliste
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition 3rd ed. 2003 edition
Joseph Goldstein
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
709 pages, biography
Media | Bøker Innbunden bok (Bok med hard rygg og stivt omslag) |
Utgitt | 31. januar 2003 |
ISBN13 | 9780306472923 |
Utgivere | Springer Science+Business Media |
Antall sider | 689 |
Mål | 178 × 255 × 38 mm · 1,68 kg |
Vis alle
Mer med Joseph Goldstein
Andre har også kjøpt
Se alt med Joseph Goldstein ( f.eks. Pocketbok , Innbunden bok , Bok , Lydbok (CD) og CD )